SR4 光谱仪

高信噪比和热稳定性

SR4 光谱仪应用广泛、坚固耐用，具有出色的信噪比和热稳定性，适用于等离子体监测和反射测量等应用。光谱仪采用阵列式CCD探测器，具有低电子噪音性能，可获得准确可靠的测量结果。

SR4 系列

免责声明：波长范围和光学分辨率规格为典型值。实际性能可能因配置、所选组件及操作条件的不同而有所差异。

组别	Part Number	波长范围	分辨率 (FWHM in nm)						刻线密度(刻线/毫米)	闪耀波段
			5 μm slit	10 μm slit	25 μm slit	50 μm slit	100 μm slit	200 μm slit
UV-Vis options:	SR-4UVV300-XX	190 – 910 nm	1.17	1.25	1.65	2.55	4.62	9.24	600	300 nm
Vis-NIR options:	SR-4VN500-XX	350 – 1040 nm	1.17	1.25	1.65	2.55	4.62	9.24	600	500 nm
UV options:	SR-4UV220-XX	190 – 410 nm	0.42	0.46	0.60	0.93	1.68	3.36	1800	Holographic
	SR-4UV240-XX	190 – 535 nm	0.58	0.63	0.83	1.28	2.31	4.62	1200	Holographic
UV-Vis options:	SR-4UVV240-XX	190 – 850 nm	1.17	1.25	1.65	2.55	4.62	9.24	600	240 nm
	SR-4UVV400-XX	190 – 910 nm	1.17	1.25	1.65	2.55	4.62	9.24	600	400 nm
Ethernet options:	SR-4UVV300EN-XX	190 – 910 nm	—	—	1.65	—	—	—	600	300 nm
Vis options:	SR-4VIS400-XX	350 – 1040 nm	1.17	1.25	1.65	2.55	4.62	9.24	600	400 nm
NIR options:	SR-4N750-XX	570 – 860 nm	0.58	0.63	0.83	1.28	2.31	4.62	1200	750 nm
	SR-4N1000-XX	600 – 1050 nm	1.17	1.25	1.65	2.55	4.62	9.24	600	1000 nm
Extended-range options:	SR-4XR250-XX	190 – 1050 nm	1.43	1.54	2.03	3.13	5.67	11.34	500	250 nm
Extended-range Ethernet options:	SR-4XR250EN-XX	190 – 1050 nm	—	—	2.03	—	—	—	500	250 nm
积分时间		3.8 ms – 10 s
信噪比（单次扫描）		250:1
信噪比（高速平均模式）		3,000:1
接口		16 pin Samtec TFM, RS-232, SMA, USB Type-C
尺寸		88.1 x 63.5 x 31.45 mm
重量		254 g
工作温度		0 °C – 55 °C
储存温度		-30 °C – 70 °C
适合的应用		Absorbance at low stray light levels Emission line analysis in gases and plasmas High-resolution ethanol-water analysis in teaching labs and QA/QC environments where spectral detail is key Reflectance of solid samples