校准常见问题

我们出厂的每台光谱仪都附有一张表，列出了其波长校准系数（四个浮点数值，可用于推导与探测器上每个像素相关的波长），以及用于生成这些系数的光谱线（来自汞、氩、氙、氖和其他校准线源）的摘要。

本校准表仅包含自动校准和对齐过程中所收集数据的简要概述。例如，表中报告的像素值是 “主要峰值位置”（最近的全像素）。这些像素值不足以重新生成和验证校准表中的 “预测 λ “列。

我们的校准软件会查看周围的峰值特征，以预测和内插一个更精确的 “子像素峰值 “位置。正是这个子像素（分数像素）被输入到线性回归中，从而生成我们的波长系数。如果没有这些分像素峰值位置，您将无法手动重新生成达到预期精度的 “预测 λ “值。(您将得到一个非常接近的值，完全符合我们的精度规范，但它可能与打印值的小数点后三位不一致）。

我们提供快速入门指南。在此下载。

海洋光学公司使用的校准光源可追溯至美国国家标准研究所 (NIST) 的标准光源。这并不意味着用于校准的特定型号光源一定是在 NIST 测得的。随着时间的推移，光源的输出会随着灯泡的老化而发生变化。

在 350 纳米波长和 900 纳米波长上，我们通常看到的误差分别为每小时 0.1% 和 0.02%，这两个百分比误差之间的波长大致呈线性拟合。 客户必须决定需要可接受的误差范围来确定下次进行重新校准的时间， 一般而言光源使用50小时需要重新校准。

通常的做法是保留一个 NIST 可追溯光源作为黄金标准，并用它来校准其他光源。与 NIST 校准光源的每一度分离都会带来一些不确定性，因此大多数海洋光学校准光源的总不确定性估计在 10% 以内（这是行业的典型值）。使用校准系统进行测量的重复性要高得多，通常在 2% 以内。

绝对辐照度校准使用已知输出（以每平方厘米每纳米微瓦特（µW/cm²/nm）为单位测量）的灯来校准光谱仪在每个像素上的响应。这种校正调整了光谱的形状和幅度，产生以微瓦特每平方厘米每纳米（µW/cm²/nm）表示的结果。当使用积分球时，输出结果是以微瓦特每纳米（µW/nm）表示的辐射通量。尽管通常称为“绝对辐照度校准”，更准确的术语应该是“光谱辐照度校准”或“光谱辐照度响应校准”，因为校准过程专门调整设备以进行精确的光谱辐照度测量。有关仪器响应函数（IRF），即这种校准所补偿的内容，更多信息请参阅Ocean Optics术语表。

不可以，我们无法为低于200纳米的波长提供便携式标准或服务。虽然我们的部分光谱仪在使用氩气冲洗的情况下可以检测到低于200纳米的光，但目前没有国家级实验室生产这一波长范围内的便携式标准。这类波长的校准服务仅在专门的设施提供，如美国国家标准与技术研究院（NIST）使用同步加速器源在受控环境中提供的服务。这个过程需要将您的设备直接带到这些设施进行校准，这不仅非常复杂，而且成本极高。

我们提供用于光谱仪波长校准的气体放电发射源，其波长范围为 ~250-2500 nm。请参考下表，确定最适合您所需波长范围的发射源。通过使用更多的发射线，您可以更有效地校正所有光谱仪固有的漂移和其他现象。

• HG-2：汞-氩（253-1700 纳米）
• KR-2：氪气（427-893 纳米）
• NE-2：氖气（540-754 纳米）
• AR-2：氩气（696-1704 纳米）
• XE-2：氙气（916-1984 纳米）

可以。我们可以校准带有直接连接余弦校正器的光谱仪装置，以进行绝对辐照度测量。但是，在对余弦校正器进行辐射校准后，如果断开其连接，校准结果将失效。即使小心地重新连接余弦校正器，也无法复制准确的光耦合。对光学器件或连接的任何更改都需要对整个系统进行重新校准。

不可以！校准光源不能用作相对辐照度的参考。输出路径中扩散器的存在会改变光谱，因此它不是黑体光源。

不是！绝对辐照度校准要求将光谱仪和所附光学器件作为一个系统进行校准，因为只有这样才能精确表征所有光学元件和光学接口的综合效果。即使将光纤从光谱仪上断开，然后重新连接，也会改变光谱仪的响应，影响校准。事实上，为了防止这种情况发生，我们会在校准前密封海洋光学现场校准系统的光纤连接，以防止意外断开。

高反射率 STAN-SSH-NIST 反射率标准是根据 NIST 标准校准的，在 250-2400 纳米范围内的精度为 ~1%。