用于反射和透射测量的样品支架

光学测量平台是用于平面基底反射/透射测量的多功能配件，提供单点反射型与多点反射/透射复合型版本。该工具坚固可靠，在采样装置中能有效维持光纤及探头定位。

参数	STAGE	STAGE-RTL-T
类型	单点反射台	多点、反射和透射
底座尺寸	直径 152.4 毫米	直径 206.3 毫米
轨道高度	可调至 63.5 毫米	可调至 400 毫米
样品区尺寸	101.6 毫米	直径 152.4 毫米
透镜适用波长	NA	200-2000 纳米
组件	样品台	样品台、滑轨、适配器、准直透镜 (2)、光阱
支架材质	阳极氧化铝	阳极氧化铝
重量	620 g	4.5 千克
电源要求	NA	110/240 伏交流电